反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)采用“所見即所得"的測量方式，即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時(shí)看到測量光斑，成像與測量光路通過電機(jī)切換。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求，對于特殊波段可進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)及光路定制

產(chǎn)品型號：MAPS-TR

更新時(shí)間：2026-05-18

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反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)

標(biāo)準(zhǔn)反射/透射光譜測試系統(tǒng)，采用“所見即所得"的測量方式，即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時(shí)看到測量光斑，成像與測量光路通過電機(jī)切換。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求，對于特殊波段可進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)及光路定制。

系統(tǒng)原理示意圖

*此圖為簡化原理示意，不代表實(shí)際光路

典型數(shù)據(jù)圖

基本功能

白光反射譜及Mapping成像；
白光透射譜及Mapping成像；
電動變偏振采譜；（可選）
適配低溫臺、電學(xué)樣品臺等；（可選）
共聚焦方式和科勒照明方式；（可選）
透射光譜無色散設(shè)計(jì)；（可選）
入射及收集光路均可配置雙口電動切換。（可選）

應(yīng)用場景

光學(xué)材料的能級及振動強(qiáng)弱信息探測
半導(dǎo)體材料的帶隙探測；
無機(jī)光學(xué)材料的吸收特性研究；
貴金屬納米材料的表面等離激元共振特性研究；
光學(xué)材料的基礎(chǔ)光譜表征。

反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)典型參數(shù)配置

測試光源：光纖耦合鹵素?zé)?；自由空間鹵素?zé)簦蛇x）
支持光譜范圍： 250 nm - 850 nm；400 nm - 1100 nm；900 nm - 1700 nm
空間分辨率：＜ 1 μm
電動位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
掃描精度：＜ 1 μm，步進(jìn)最小 0.04 μm
偏振控制：電動
測量方式：反射和透射
光路切換方式：電動，軟件控制
物鏡組： 5X，10X，20X，50X，100X可見光物鏡；反射式物鏡，紅外長焦物鏡等可選
照明光源：高顯色LED面光源
光譜采集：光纖光譜儀；光柵光譜儀（可選）
軟件功能：移動視場，切換物鏡，對焦，框選掃描區(qū)域均可用鼠標(biāo)直接在圖像顯示窗口操作；電動功率調(diào)整；自動光路模式切換；自動化Mapping
自動化偏振Mapping；實(shí)時(shí)處理與顯示數(shù)據(jù)。