Omni-FD系列像差校正光柵光譜儀：北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供1-80nm信號(hào)測量方案，解決從軟x射線-極紫外-真空紫外信號(hào)分析。

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更新時(shí)間：2025-06-20

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產(chǎn)品分類Product Categories

光譜儀器

激光器光電模組與系統(tǒng) 微區(qū)磁光及角分辨原子光譜門控相機(jī)/分幅相機(jī) 綜合光電性能測試系統(tǒng) 高光譜相機(jī) 高光譜分選儀拉曼光譜儀傅里葉紅外光譜儀太陽模擬器激光閃光光解光譜儀光致發(fā)光光譜儀熒光光譜分析儀（系統(tǒng)）伏安特性測試系統(tǒng) 太陽能電池檢測儀器（系統(tǒng)）光譜測量系統(tǒng) 光源高光譜影像光譜儀微弱信號(hào)處理器光譜儀，單色儀，攝譜儀光譜系統(tǒng)關(guān)聯(lián)產(chǎn)品紫外可見分光光度計(jì) 標(biāo)準(zhǔn)白板探測器標(biāo)定測光儀器樣品室
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Omni-FD系列像差校正光柵光譜儀

產(chǎn)品概述

北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供1-80nm信號(hào)測量方案，解決從軟x射線-極紫外-真空紫外信號(hào)分析。該譜儀同時(shí)提供相應(yīng)相機(jī)接口，可以配合真空相機(jī)（國產(chǎn)或進(jìn)口）或是MCP板進(jìn)行不同能量信號(hào)的測試。可應(yīng)用于極紫外信號(hào)標(biāo)定，高次諧波等高能實(shí)驗(yàn)。

本譜儀提供三種光柵，可以分別測試1-5nm，5-20nm以及20-80nm的信號(hào)測量，設(shè)備占空間小，并且接受個(gè)性化定制，可以完*配合您的實(shí)驗(yàn)。

譜儀基本參數(shù)：

· 入射角度 87度

· 適用設(shè)備 MCP（微通道板）或直接真空相機(jī)

· 真空度低于10E-5Pa

· 光柵尺寸 50X30mm

· 獨(dú)*的進(jìn)光口設(shè)計(jì)，可解決入口雜散光干擾問題

· 獨(dú)*的譜線校準(zhǔn)方案

· 根據(jù)測試不同波長能量提供多種光柵

· 探測面可連續(xù)可調(diào)，方便不同探測器焦深

· 獨(dú)*的零級(jí)干擾去除方案

1200g/mm光柵衍射示意圖：