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產(chǎn)品簡介

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納米級(jí)控制,全方面防護(hù):卓立主動(dòng)隔振系統(tǒng)定義半導(dǎo)體隔振新高度
樣品室是光電測量系統(tǒng)中*的組成部分,不同類型的樣品需要搭配不同的樣品室,才能獲得更好的測試效果。卓立漢光根據(jù)多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),設(shè)計(jì)了多種配套樣品室供用戶選擇,并且可以根據(jù)客戶的需求提供定制化服務(wù)。
SAC通用型三口樣品室
SAC-PL緊湊型熒光樣品室
SAC-Fluo熒光光譜測量專用樣品室
SAC-DRF粉末樣品反射率測量樣品室
SAC-RF全反射型樣品室
SAC樣品室附件
超低溫樣品室及附件

SAC-DRF粉末樣品反射率測量樣品室主要特點(diǎn)
專為固體、粉末類樣品的反射/吸收光譜測量設(shè)計(jì);
提供與“譜王”和“影像譜王”系列光譜儀狹縫標(biāo)準(zhǔn)接口
采用反射式光路,無色差影響;
測試光斑直徑:3mm
樣品盒采用抽屜式設(shè)計(jì), 裝取方便。
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